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工厂
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 产品型号：SPI-2F
剪切散斑干涉仪可用于物体表面离面位移及离面位移梯度测量。该仪器使用大功率绿色半导体激光器作光源，具有电子散斑条纹实时处理软件，操作方便，便于携带，可用于现场测量。
主要技术指标：
l 最大测量范围： 500×500mm2
l 剪切镜：0.5°，5°各1块
l 激光器功率： 50mW
l 系统分辨率： 1/2级条纹
l 实时条纹显示速度：25帧/s
l 图像采集分辨率： 576×768
l 黑白CCD摄像头：信噪比 45dB，C接口，配进口25mm定焦镜头
l 图像采集接口：USB
l 最大测量距离：1.2m
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